| 基本信息 |
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| 教育背景 |
2008/09 - 2012/07
簡(jiǎn)歷本信息學(xué)院
本科 - 電子信息科學(xué)與技術(shù)
主修課程：盡量填寫和應(yīng)聘崗位相關(guān)的主修課程
成績(jī)排名：成績(jī)優(yōu)異的話可在這里填寫成績(jī)排名及GPA信息 | |||||||||||||||||||||
| 工作經(jīng)歷 |
2012/05 - 至今
簡(jiǎn)歷本管理咨詢有限公司
測(cè)試研發(fā)工程師
2012年5月至今在嘉盛半導(dǎo)體（蘇州）有限公司擔(dān)任測(cè)試開發(fā)工程師，負(fù)責(zé)新產(chǎn)品的導(dǎo)入與開發(fā),兼顧方案后期的維護(hù)與升級(jí)。產(chǎn)品多涉及分離元器件類與射頻類IC。
主要使用的平臺(tái)有TESEC/ASL/ETS/AEMULUS/ QTT/AMIDA/KEYSIGHT/ACCOTEST等。 基本的開發(fā)任務(wù)占一半，改善占據(jù)另一半，涉及如下幾點(diǎn)： ? 通過優(yōu)化測(cè)試時(shí)間，提高測(cè)試產(chǎn)能 ? 通過優(yōu)化代碼控制疊料風(fēng)險(xiǎn)，通過改善硬件以防呆等措施來(lái)提升品質(zhì) ? 通過改善方案提高測(cè)試機(jī)臺(tái)的利用率 | |||||||||||||||||||||
| 項(xiàng)目經(jīng)歷 |
2016/09 - 至今
測(cè)試程序優(yōu)化與防呆
職責(zé)/工具
項(xiàng)目介紹
1、優(yōu)化測(cè)試程序的時(shí)間，通過優(yōu)化測(cè)試框架，延時(shí)，項(xiàng)目整合等方式使測(cè)試時(shí)間達(dá)到最優(yōu)化 2、程序中增加代碼檢測(cè)疊料等重大質(zhì)量問題 3、程序中增加初始化測(cè)量值判定，檢測(cè)測(cè)試設(shè)備異常 4、多站測(cè)試增加特殊判定方式來(lái)防止Mix 我的職責(zé)
2016/03 - 2016/08
測(cè)試機(jī)測(cè)試模式改善
職責(zé)/工具
項(xiàng)目介紹
測(cè)試機(jī)原生產(chǎn)模式為一臺(tái)Tester support一臺(tái)Handler,經(jīng)過努力，項(xiàng)目改善后可以做到的是一臺(tái)Tester support 兩臺(tái)Handler，獨(dú)立資源運(yùn)行，互相不受干擾，減少投資。 我的職責(zé) | |||||||||||||||||||||
| 自我評(píng)價(jià) |
有比較豐富的半導(dǎo)體測(cè)試開發(fā)經(jīng)驗(yàn)，項(xiàng)目涉及各種分離元器件類和射頻類的芯片。自學(xué)能力強(qiáng)，注重細(xì)節(jié)，希望在半導(dǎo)體測(cè)試開發(fā)方向有更深入的了解與提高。
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